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簡要描述：電子元器件老化測試-55℃至+125℃高低溫機(jī)用于電子元器件（如芯片、PCB、傳感器等）在-55℃至+125℃范圍內(nèi)的老化測試（Burn-in Test）是評估其可靠性、壽命及環(huán)境適應(yīng)性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
產(chǎn)品型號： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-07-25訪 問 量：303詳細(xì)介紹
電子元器件老化測試-55℃至+125℃高低溫機(jī)-江蘇康士捷機(jī)械設(shè)備有限公司設(shè)計(jì)生產(chǎn)。
康士捷生產(chǎn)的工業(yè)控溫設(shè)備有高溫型（5℃～35℃）、中溫型（-5℃～-40℃）、低溫型（-40℃～-80℃）、極低溫型（-150℃～-80℃）、冷熱兩用型（-150℃～+300℃）等系列產(chǎn)品供貴司選用。制冷量大小都有，有防爆型，防腐型，撬裝式，變頻型等。接受非標(biāo)定做。溫度穩(wěn)定性±0.1℃等可選。
以下列出部分參數(shù)，貴司參數(shù)溝通選型后確認(rèn)。
電子元器件（如芯片、PCB、傳感器等）在-55℃至+125℃范圍內(nèi)的老化測試（Burn-in Test）是評估其可靠性、壽命及環(huán)境適應(yīng)性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
電子元器件老化測試-55℃至+125℃高低溫機(jī)典型應(yīng)用
IC芯片（CPU、GPU、存儲器）的高低溫循環(huán)測試。
汽車電子（ECU、雷達(dá)、BMS）的AEC-Q100/-200認(rèn)證。
電子（航天級元器件）的MIL-STD-883測試。
消費(fèi)電子（手機(jī)主板、IoT模塊）的長期老化驗(yàn)證。
核心測試標(biāo)準(zhǔn)
適用范圍 | 溫度要求 |
車規(guī)級芯片 | -40℃~+125℃（Grade 1） |
/航天電子 | -55℃~+125℃（Method 1010） |
電子器件溫度循環(huán)測試 | -65℃~+150℃（可選） |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)（低溫/高溫） | -55℃~+125℃（定制） |
電子元器件老化測試-55℃至+125℃高低溫機(jī)型號齊全
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